一种用电流差值来判断IDDQ测试的方法

摘要

本文公开了一种用电流差值△IDDQ(MAX(IDDQ_1，IDDQ_N)‑MIN(IDDQ_1，IDDQ_N))来判断IDDQ测试结果，用于提高IDDQ故障以及桥接故障的测试覆盖率。本方法可以改进现有只用两个测试点的差值判断IDDQ，拓宽到任意个测试点。从而通过追加测试点提高IDDQ测试的测试覆盖率。同时使用电流差值作为判断IDDQ测试的依据，可以减轻IDDQ测试单纯判断电流大小，在深亚微米工艺条件下背景电流大的缺点。进而保证在芯片量产时存在工艺偏差的背景下能够稳定量产。