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反射差分光学测量装置及其测量方法

摘要

本公开提供了一种反射差分光学测量装置及其测量方法,包括入射源、入射源处理装置、分束器、反射差分组件、出射源处理装置和出射源;光束由入射源进入测量装置,并被入射源处理装置处理后形成平行光束;平行光束通过分束器后产生出射光束;出射光束通过反射差分组件垂直入射样品表面;通过样品表面的出射光束再顺次通过反射差分组件和分束器后,输入出射源处理装置;通过出射源处理装置的出射光束汇聚进入出射源;相对于样品表面的入射光束和出射光束间的夹角为0°。本公开中分束器的设置,将入射光路与出射光路整合到一套装置中,体积小重量轻,性能可靠,垂直入射的光学结构,实现不限长度的工作距离,测量精度不受工作距离影响,易于调整。

著录项

  • 公开/公告号CN108732106A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201810536028.5

  • 申请日2018-05-29

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人李坤

  • 地址 300354 天津市津南区海河教育园区雅观路135号

  • 入库时间 2023-06-19 07:01:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/21 申请日:20180529

    实质审查的生效

  • 2018-11-02

    公开

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