首页> 中国专利> 一种结合坐标下降法的交织多址技术下的频偏检测方法

一种结合坐标下降法的交织多址技术下的频偏检测方法

摘要

本发明属于无线通信技术领域,具体涉及一种基于交织多址技术的频偏检测方法。由于基于交织多址的正交频分复用(OFDM‑IDMA)系统将遭受由多普勒频移或收发端晶振精度不同所造成的多个频偏的影响,而正交频分复用(OFDM)系统中传统的频偏抑制方法并不能适用于OFDM‑IDMA系统,故需要研究OFDM‑IDMA系统中的多频偏抑制方法。本发明的方法是在OFDM‑IDMA系统上,采用一种坐标下降(CDM)频偏检测算法来抑制频偏。进行频偏检测后,进行有所提升。

著录项

  • 公开/公告号CN108712234A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201810501444.1

  • 发明设计人 何燃燃;肖悦;康洁思;

    申请日2018-05-23

  • 分类号H04L1/00(20060101);H04L27/26(20060101);H04B17/391(20150101);

  • 代理机构51232 成都点睛专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人孙一峰

  • 地址 611731 四川省成都市高新西区西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 07:00:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04L1/00 申请日:20180523

    实质审查的生效

  • 2018-10-26

    公开

    公开

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