一种自适应的IDW插值方法

摘要

本发明提出一种自适应的IDW插值方法，旨在为空间点数据插值提供更为精确的方法支持。本发明先将点数据进行预处理，再对待插值空间点二阶半径、一阶半径内高密度显著性分析，若二阶半径内为高密度显著，则将二阶半径范围内的样点作为参考点参与到IDW插值中，否则进行一阶半径内高密度显著性分析，若一阶半径内高密度显著，则将一阶半径范围内的点作为参考点进行IDW插值。若一阶、二阶半径内空间样点均不高密度显著，则将待插值点的一阶邻近点作为IDW插值的局部搜索点，进行IDW插值。