公开/公告号CN108507680A
专利类型发明专利
公开/公告日2018-09-07
原文格式PDF
申请/专利号CN201710102861.4
申请日2017-02-24
分类号
代理机构
代理人
地址 100101 北京市朝阳区大屯路甲11号
入库时间 2023-06-19 06:25:45
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-09-06
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/00 申请日:20170224
实质审查的生效
2018-09-07
公开
公开
机译: 一种用于测量温度和EMF辐射的温度和EMF辐射的监测装置,其用途及其使用的监测方法
机译: 温度传感器装置和使用该装置的辐射温度计,温度传感器装置的制造方法,使用光致抗蚀剂膜的多层薄膜热电堆和使用该热电堆的辐射温度计以及多层薄膜热电堆的制造方法
机译: 使用该装置的温度传感器装置和辐射温度计,温度传感器装置的制造方法,使用光致抗蚀膜的多层薄膜热敏电阻和使用该热敏电阻的辐射温度计以及多层的制造方法