一种基于带约束稀疏表示的高光谱图像异常检测方法

摘要

本发明属于图像处理领域，涉及一种基于带约束稀疏表示的高光谱图像异常检测方法，包括以下步骤：(S1)将高光谱图像线性规范化；(S2)对于每一个测试像元，根据双窗模型提取局部背景字典；(S3)根据局部背景字典，求解带约束稀疏表示模型，得到模型最优解一；(S4)根据模型最优解一，将所有异常原子从局部背景字典中删除，得到新的背景字典；(S5)根据新的背景字典，求解带约束稀疏表示模型，得到模型最优解二；(S6)根据模型最优解二，计算像元的检测值；(S7)遍历整个高光谱图像，对高光谱图像的每一个像元计算检测值，输出这些检测值构成的图像，即异常检测图像。本发明不需要背景统计信息和设置稀疏度，提高了重构精度。