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基于激光产生的X射线和质子的双粒子照相设备及方法

摘要

本发明公开了基于激光产生的X射线和质子的双粒子照相设备,包括超快激光束;反射镜,所述超快激光束会被反射的激光束将会汇集于一点;金属靶,被反射的激光束会入射到金属靶上后会产生X射线、质子束和电子束;定位块,所述定位块位于金属靶后方;质子探测器,所述质子束探测器位于定位块后方,用于探测并记录质子束拍摄到的质子图像;偏转磁铁,所述偏转磁铁用于将质子束、电子束偏转;X射线探测器,所述X射线探测器位于偏转磁铁后方,用于探测并记录X射线拍摄到的X射线图像。该设备中各器件均十分易得,组合安放十分便利,并且使用该设备对客体进行拍摄可在一次检测中完成不同物质密度客体及其携带电磁场信息的测量。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/2208 申请日:20180413

    实质审查的生效

  • 2018-09-04

    公开

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