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一种基于双频正交光栅投影检测反射元件面形的方法

摘要

本发明提供一种基于双频正交光栅投影检测反射元件面形的方法,使用该方法检测反射光学面形时,其基本器件包括CCD传感器、待测元件、LCD液晶显示器和计算机。LCD显示器依次显示由计算机编码生成的相移条纹图,CCD接收得到经过待测元件表面反射后的变形条纹图。若测量系统中采用物理光栅和机械装置进行相移时,则需在竖直和水平两种光栅中进行切换,并进而完成相应的相移量。为了避免这两个方向上的光栅的切换和实现精确的相移量,提出一种基于最小二乘迭代的双频正交光栅相移方法,将双频正交光栅用于相位偏折术中,测量过程中无需更换光栅,并且也无需精确的相移量,即可同时获取两个方向的相位分布。本发明的有益效果:测量结果精度高,适用于高精度的三维面形测量。

著录项

  • 公开/公告号CN108426539A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川大学;

    申请/专利号CN201810200806.3

  • 申请日2018-03-12

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610065 四川省成都市武侯区一环路南一段24号

  • 入库时间 2023-06-19 06:13:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B11/24 申请公布日:20180821 申请日:20180312

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2018-09-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 申请日:20180312

    实质审查的生效

  • 2018-08-21

    公开

    公开

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