法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-08-21
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/203 申请日:20171229
实质审查的生效
2018-07-27
公开
公开
机译: 用于相衬和/或暗场成像的X射线探测器,具有X射线探测器的干涉仪,X射线成像系统,用于执行相衬X射线成像和/或暗场X射线成像的方法以及计算机程序,计算机可读媒体
机译: X射线探测器的校准方法,通过该方法校准的X射线探测器,使用相同方法控制X射线成像设备和X射线成像设备的方法
机译: 用于x射线探测器的测量电路,相应的方法和x射线成像系统(用于x射线探测器的测量电路,相应的方法和x射线成像系统)