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X射线背散射探测结构及成像方法

摘要

本发明公开了X射线背散射探测结构及成像方法,本方案通过采用差分式康普顿背散射探测阵列结构来实现获取差分散射信号,据此进行成像。本发明提供的方案具有分辨率高,高检测速度下更低的射线强度要求,减小物体相对位置对信号的影响提高检测效果等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN108333204A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 公安部第三研究所;

    申请/专利号CN201711490186.3

  • 申请日2017-12-29

  • 分类号G01N23/203(20060101);

  • 代理机构31224 上海天翔知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘常宝

  • 地址 200031 上海市徐汇区岳阳路76号

  • 入库时间 2023-06-19 06:30:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/203 申请日:20171229

    实质审查的生效

  • 2018-07-27

    公开

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