一种基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法

摘要

一种基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法，针对微系统芯片内部FPGA资源进行测试。考虑单片FPGA资源利用率的限制，每种待测资源分别对应多个测试文件，所有测试文件存储于嵌入式微系统存储器中。依据测试顺序，通过嵌入式微系统内部处理器模拟SelectMAP时序将测试文件分时加载。测试文件还可通过内部处理器实现在线更新。测试过程中对应的FPGA输入输出信号亦由微系统内部处理器提供或检测。本发明方法依靠微系统芯片自身资源实现对微系统内部FPGA的功能测试，无需外部复杂的控制和存储器件，亦不需要大型测试设备，极大简化了系统设计。采用SelectMap模式加载，测试效率得到大幅提高。测试文件还可在线更新，使得测试系统更加灵活。