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一种地基微波辐射计及其定标方法、大气探测方法

摘要

本发明提供了一种地基微波辐射计及其定标方法、大气探测方法,所述的地基微波辐射计,包括:平面镜、电机、扫描控制电路、透镜、馈源、分工器、接收机单元、定标体和数据采集管理单元;该辐射计采用平面镜扫描,利用透镜将平面镜反射的平面波进行聚焦,使得平面镜与馈源之间相对位置固定,避免了采用抛物反射面天线旋转时与馈源之间相对位置变化后,天馈系统驻波比发生变化所导致的输出波动现象,而且避免了抛物反射面天线加工难度大且成本高的缺点。另外,本发明的辐射计采用绝对定标和实时定标相结合的定标方法,不仅可以提高定标的精确度,还可以提高系统对环境的适用性。

著录项

  • 公开/公告号CN108267739A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院国家空间科学中心;

    申请/专利号CN201611253140.5

  • 申请日2016-12-30

  • 分类号G01S13/95(20060101);G01S7/40(20060101);

  • 代理机构11472 北京方安思达知识产权代理有限公司;

  • 代理人王宇杨;陈琳琳

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村南二条1号

  • 入库时间 2023-06-19 05:53:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S13/95 申请日:20161230

    实质审查的生效

  • 2018-07-10

    公开

    公开

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