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公开/公告号CN108225193A
专利类型发明专利
公开/公告日2018-06-29
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
申请/专利号CN201810245787.6
发明设计人 李文昊;吕强;巴音贺希格;唐玉国;刘兆武;于宏柱;
申请日2018-03-23
分类号G01B11/02(20060101);
代理机构44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人赵勍毅
地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
入库时间 2023-06-19 05:45:30
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-07-24
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20180323
实质审查的生效
2018-06-29
公开
机译: 用于二维变形或轮廓输出的二维位移测量的多视图衍射光栅成像
机译: 用于测量物体位移的外差式干涉式光纤位移传感器
机译: 外差光栅干涉仪位移测量系统
机译:基于衍射光栅的双色外差干涉仪用于位移测量
机译:基于双衍射光栅的二自由度位移测量系统
机译:用双棱镜和外差式干涉仪的差分相位差测量小位移的另一种方法
机译:基于外差干扰的三维高精度非接触式动态角位移测量系统
机译:使用非侵入式电阻层析成像方法(ERT)进行的西南密苏里州喀斯特地形的土壤和岩石结构的二维和三维映射。
机译:基于FPGA的智能传感器可使用外差式干涉仪进行在线位移测量
机译:基于FPGA的智能传感器,可使用外差式干涉仪进行在线位移测量
机译:一种简单的电容式位移测量系统