基于化工TE过程的双主元-动态核主元分析故障诊断方法

摘要

本发明公开了一种基于化工TE过程的双主元‑动态核主元分析故障诊断方法，本发明所述方法利用DOD算法确定过程数据的最佳参数阶次，生成的动态矩阵在核主元空间中投影后，先利用R主元方法对高维噪声的抑制能力有效确定正常状态数据在核特征空间的主元个数，并生成故障检测高维空间的T2、SPE控制限；再利用CPV方法最大程度保留故障信息，从待检测数据中确定新的主元个数，重新计算出T2、SPE统计量进行故障的监控与检测。本发明所述的DME‑DKPCA法有效提高了故障检测的识别率，较DKPCA法具有更优良的模型精度。