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基于FTIR的表征设备

摘要

本发明提供了一种基于FTIR的表征设备,通过新增两个与水平面倾斜的可移动反射镜,使红外光到达探测器被转换成数字信号之前,两次穿过晶片,增加了光通量;基于同样的原理,本发明另外还新增了一个V型镜的方法来增加光通量。红外光两次穿过晶片增大了所述晶片吸收红外光的量,这样能够在晶片厚度保持不变的情况下增强对所述晶片中碳浓度的敏感度,使表征设备能够在不增加所述晶片厚度的情况下对其中的碳浓度进行检测。

著录项

  • 公开/公告号CN108074829A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海新昇半导体科技有限公司;

    申请/专利号CN201610987721.5

  • 发明设计人 王燕;刘源;保罗·邦凡蒂;

    申请日2016-11-10

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人余昌昊

  • 地址 201306 上海市浦东新区泥城镇云水路1000号

  • 入库时间 2023-06-19 05:22:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/66 申请日:20161110

    实质审查的生效

  • 2018-05-25

    公开

    公开

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