超高温材料光谱发射率测量系统及其使用方法

摘要

本发明公开了一种超高温材料光谱发射率测量系统及其使用方法，测量系统包括红外光谱辐射测量设备、计算机控制系统、黑体辐射源、温度控制系统和辅助光路系统；温度控制系统上设置样品槽和黑体腔孔，将样品槽内的样品加热到设定的温度，计算机控制系统控制辅助光路系统，将此时样品的辐射和放在黑体腔孔内的黑体辐射源的辐射反射至红外光谱辐射测量设备，进行辐射测量，通过计算机控制系统计算得到样品的光谱发射率。本发明可以通过一体化的设计实现超高温材料的光谱发射率测量，与此同时，采用降低背景辐射技术极大地提高被测样品的光谱发射率测量精度。