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公开/公告号CN107966836A
专利类型发明专利
公开/公告日2018-04-27
原文格式PDF
申请/专利权人 南昌工程学院;
申请/专利号CN201711224024.5
发明设计人 郭波;
申请日2017-11-29
分类号G02F1/13(20060101);
代理机构35218 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司;
代理人方惠春
地址 330096 江西省南昌市高新区天祥大道289号
入库时间 2023-06-19 05:10:38
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-05-22
实质审查的生效 IPC(主分类):G02F1/13 申请日:20171129
实质审查的生效
2018-04-27
公开
机译: 光学膜缺陷检测系统和光学膜缺陷检测方法{用于检测光学膜缺陷的系统和方法}
机译: 一种用于检测透明基质中缺陷的照明系统以及一种包含该缺陷的检测系统
机译:使用背景图像重建对TFT-LCD Mura缺陷进行自动光学检查
机译:使用自适应阈值和基于形状的图像分析的TFT-LCD偏光膜的有效缺陷检测系统
机译:光学自动定位和晶圆缺陷检测系统的开发
机译:TFT-LCD缺陷自动视觉检测系统
机译:用于光伏工厂的可视缺陷检测自动检测系统
机译:在透明粘合芯片中快速齐全地测量嵌入式微通道结构尺寸的自动光学检测系统的开发
机译:使用相邻图案比较和边界扩展算法进行AOI(自动光学检测)系统缺陷检测图案TFT-LCD面板的缺陷
机译:通过自动磁通泄漏检测系统检测155毫米弹丸m483a1的严重缺陷