首页> 中国专利> ArF准分子激光光场能量均匀性检测的能量探测器设计方法

ArF准分子激光光场能量均匀性检测的能量探测器设计方法

摘要

本发明公开了一种针对投影式光刻系统中的脉冲激光光场能量均匀性测试的装置和方法。本发明使用的是探针步进扫描法,使用两个紫外传感器分别检测脉冲激光与自然光中的紫外光。紫外传感器采集到信号后,依次进行I/V转换,前置放大,差分相减,消除掉自然光中紫外成分的干扰后再进行积分处理,通过计数和同步控制逻辑对一定个数脉冲激光的能量实现的周期性探测,每个周期的能量在经过AD转换后将信号传递给单片机,同时通过单片机与PC相连,可以使用PC来对信号进行后续的分析。本发明是一个能量探测器系统,具有很高的精度和可控性。

著录项

  • 公开/公告号CN107941331A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川大学;

    申请/专利号CN201711443199.5

  • 发明设计人 曹益平;

    申请日2017-12-27

  • 分类号G01J1/42(20060101);G03F7/20(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610065 四川省成都市武侯区一环路南一段24号

  • 入库时间 2023-06-19 05:07:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J1/42 申请日:20171227

    实质审查的生效

  • 2018-04-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号