首页> 中国专利> 用于太赫兹光谱测量的载样组件及太赫兹光谱测试方法

用于太赫兹光谱测量的载样组件及太赫兹光谱测试方法

摘要

本发明涉及一种用于太赫兹光谱测量的载样组件及太赫兹光谱测试方法。一种用于太赫兹光谱测量的载样组件包括:支撑层、第一吸附层及第二吸附层;支撑层夹设于第一吸附层与第二吸附层之间,使得第一吸附层与第二吸附层形成0.2mm~0.5mm的间隙;第一吸附层及第二吸附层均为硝酸纤维素膜。上述用于太赫兹光谱测量的载样组件及太赫兹光谱测试方法由于硝酸纤维素膜的吸收系数与聚乙烯材料的吸收系数相近,完全可以适用于太赫兹光谱测量,且采用硝酸纤维素膜作为吸附层只需在吸附层上滴加少量样品溶液即可进行测试,避免了使用聚乙烯粉末压片法或者聚偏二氟乙烯薄膜浸渍样品溶液的制样方法,所需样品量少,样品耗用小,可以适用于较少样品时的检测。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-26

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/3586 申请公布日:20180417 申请日:20171121

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2018-05-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/3586 申请日:20171121

    实质审查的生效

  • 2018-04-17

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号