用于非接触卡类芯片的编程失败自检测电路及自检测方法

摘要

一种用于非接触卡类芯片的编程失败自检测电路及自检测方法，EEPROM电压检测模块实时检测EEPROM编程工作电压，当EEPROM编程工作电压低于设定的EEPROM工作电压阈值时，产生低压中断信号，编程数据比较模块对编程前数据和编程后数据进行比较，如果有任何一位数据的值不相等，则产生数据错误中断信号，载波调制模块若接收到低压中断信号或/和数据错误中断信号，则代表编程失败，调制产生错误载波信号。本发明在非接触卡类芯片内部集成了错误自检电路，在电路实现单元面积代价较小的情况下，提高了EEPROM编程数据的可靠性，提高了非接触通信数据传输的准确性及效率，同时减小了校正数据所用的时间开销。