首页> 中国专利> 基于柔性PIN二极管的辐照强度检测器

基于柔性PIN二极管的辐照强度检测器

摘要

本发明涉及的检测器适用于对空间中辐射源辐射强度的检测,为实现对质子辐射,电离辐射和中子辐射辐射强度的快速高效检测。本发明,基于柔性PIN二极管的辐照强度检测器,可拆卸的辐照探测阵列,包括探测阵列控制单元、可拆卸的辐射强度探测阵列、前端预处理电路、A/D转换电路、处理器;可拆卸的辐射强度探测阵列由众多辐射强度探测单元有序排列而成,其中辐射强度探测单元由2个起探测作用的柔性PIN二极管,一个起开关作用的TFT器件以及传输数据的金属互连线构成;探测阵列输出信号到前端预处理电路,之后通过A/D转换电路传输到探测阵列控制单元实现对辐照强度的判定。本发明主要应用于辐射强度检测。

著录项

  • 公开/公告号CN107765289A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201711080295.8

  • 申请日2017-11-06

  • 分类号

  • 代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人刘国威

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2023-06-19 04:41:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T1/24 申请日:20171106

    实质审查的生效

  • 2018-03-06

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号