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一种焦平面成像式辐射计温度灵敏度测试系统

摘要

本发明公开了一种焦平面成像式辐射计温度灵敏度测试系统,包括:毫米波测试机箱、直流电源Ⅲ、示波器和待测辐射计。所述毫米波测试机箱包括:直流电源Ⅱ、毫米波噪声头、毫米波手动调节精密衰减器、同轴线Ⅱ、同轴波导转换接头Ⅱ、波导同轴转换接头和同轴线Ⅲ。直流电源Ⅱ和直流电源Ⅲ为毫米波噪声头和待测辐射计提供激励和偏置电压。毫米波噪声头用于产生标定的噪声温度输出。毫米波手动调节精密衰减器进行衰减量调节,输出相应噪声温度,作为待测辐射计温度灵敏度测量的基准。示波器完成待测辐射计输出数据的采集。本发明与传统辐射计温度灵敏度测试系统相比,具有设备简单,操作简便、测试等效噪声温度灵活可调等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN107764411A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京遥感设备研究所;

    申请/专利号CN201610707636.9

  • 申请日2016-08-23

  • 分类号

  • 代理机构中国航天科工集团公司专利中心;

  • 代理人岳洁菱

  • 地址 100854 北京市海淀区北京142信箱205分箱7号

  • 入库时间 2023-06-19 04:40:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01J5/10 申请公布日:20180306 申请日:20160823

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2018-03-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/10 申请日:20160823

    实质审查的生效

  • 2018-03-06

    公开

    公开

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