一种基于OCT图像的材料内在光谱特征提取方法

摘要

本发明公开了一种基于OCT图像的材料内在光谱特征提取方法。分别将平面反射镜和待测对象垂直于光轴地正对放置在OCT扫描装置的镜头正前方，使用OCT扫描装置在沿光轴不同探测位置处的CCD原始断层图像，傅立叶变换后使用光谱特征提取算法提取得到光谱矩阵，利用平面反射镜的光谱矩阵整合成为校正矩阵，将平面反射镜和待测对象的光谱矩阵结合校正矩阵，提取获得待测对象的目标区域的光谱矩阵。在本发明中，针对OCT光谱仪中频率分辨率下降的问题，提出了一套系统的校正方法，能够将不同焦距的光谱信号进行强度校正，并能通过多个正交窗口提高时间和频率分辨率。