基于光谱技术的物品腐败程度检测系统

摘要

本发明公开了基于光谱技术的物品腐败程度检测系统，包括：用于加热易腐食物的激光发射器；用于采集易腐食物光谱的光谱采集器；用于从光谱中得出波长1000nm处的反射光谱值W1、波长1500nm处的反射光谱值W2和波长2000nm处的反射光谱值W3的控制模块；所述控制模块还用于选取W1处的权重值F1，选取W2处的权重值F2，选取W3处的权重值F3；所述控制模块还用于根据权重值得出易腐食物的综合光谱W；W＝F1*W1+F2*W2+F3*W3；所述控制模块根据W得出易腐食物的腐败程度。本发明基于光谱技术的物品腐败程度检测系统，通过对波长1000nm、1500nm和2000nm处的反射光谱值进行加权平均，实现了对易腐食物内部的腐败情况检测。