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用于智能快速测量微电子元器件关键尺寸的装置及方法

摘要

本发明涉及一种用于智能快速测量微电子元器件关键尺寸的装置,包括传送带,其上放置内置有多个微电子元器件的包装盒,包装盒的正上方设置摄像头,摄像头周围环绕发光器,摄像头的信号输出端与图像抓取系统的信号输入端相连,图像抓取系统的信号输出端与智能测量记录系统的信号输入端相连,智能测量记录系统的信号输出端与判定系统的信号输入端相连。本发明还公开了一种用于智能快速测量微电子元器件关键尺寸的装置的方法。本发明能够高效快速的对批量微电子元器件多处尺寸进行测量并判定是否满足组装需要,能在制造之前剔除不符合要求的微电子元器件,提高制造效率。

著录项

  • 公开/公告号CN107449365A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201710645461.8

  • 发明设计人 林文海;邱颖霞;叶桢;张加波;

    申请日2017-08-01

  • 分类号

  • 代理机构合肥金安专利事务所;

  • 代理人吴娜

  • 地址 230088 安徽省合肥市高新区香樟大道199号

  • 入库时间 2023-06-19 03:58:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/03 申请日:20170801

    实质审查的生效

  • 2017-12-08

    公开

    公开

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