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低导通电阻高阈值电压增强型GaN器件的制备方法

摘要

本发明公开了一种低导通电阻高阈值电压增强型GaN器件的制备方法,具体实施步骤包括在衬底上依次外延生长缓冲层、沟道层、插入层、势垒层;选择生长掩模层的制备;外沟道选择生长掩模层的刻蚀;外沟道层的选择外延生长;选择生长掩模的去除;选择生长掩模层的制备;栅选择生长区域掩模层的刻蚀;栅势垒层的选择生长;去除选择生长掩模层及其上的外沟道层;源漏金属的制备及合金;栅金属的制备。本发明具有导通电阻低;高阈值电压及均匀性;内外沟道材料结构自由度高;无损伤缺陷导致的器件动态特性退化的问题等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN107393958A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201710274143.5

  • 申请日2017-04-25

  • 分类号

  • 代理机构南京苏高专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人柏尚春

  • 地址 210016 江苏省南京市秦淮区中山东路524号

  • 入库时间 2023-06-19 03:52:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/778 申请日:20170425

    实质审查的生效

  • 2017-11-24

    公开

    公开

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