首页> 中国专利> 具有对应的电气参数的降低的漂移的MEMS多轴陀螺仪的微机械检测结构

具有对应的电气参数的降低的漂移的MEMS多轴陀螺仪的微机械检测结构

摘要

多轴MEMS陀螺仪(42)设置有微机械检测结构(10),其具有:基板(12);驱动块布置(14a‑14b);具有中心窗口(22)的从动块布置(20);感测块布置(20;35a‑35b、37a‑37b),其在存在关于第一水平轴(x)和第二水平轴(x)的角速度的情况下经历感测运动;感测电极布置(29a‑29b、30a‑30b),其相对于基板固定并且被设置在感测块布置下面;和锚定组件(24),其被设置在中心窗口(22)内以用于在锚定元件(27)处将从动块布置约束到基板。锚定组件包括刚性结构(25a‑25b),其悬挂在基板上方、在中心部分处通过弹性连接元件(26a‑26b)弹性地连接到从动块,并且在其端部处通过弹性解耦元件(28)弹性地连接到锚定元件。

著录项

  • 公开/公告号CN107270883A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-10-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 意法半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN201610875869.X

  • 申请日2016-09-30

  • 分类号G01C19/58(20060101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华

  • 地址 意大利阿格拉布里安扎

  • 入库时间 2023-06-19 03:35:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C19/58 申请日:20160930

    实质审查的生效

  • 2017-10-20

    公开

    公开

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