一种基于半阈值追踪算法的荧光分子断层成像重建方法

摘要

本发明属于分子影像技术领域，公开了一种基于半阈值追踪算法的荧光分子断层成像重建方法，采用多点激发，有限角度测量，构建非凸问题稀疏正则模型，建立表面的测量数据与荧光目标分布的线性关系，将线性关系转化为1/2范数极小化问题求解，获得重建目标内部的荧光目标的三维分布与浓度；通过阈值迭代和匹配追踪算法对模型求解。本发明有利于减少问题的病态性；利用光学特性参数与解剖结构信息作为先验知识，提高了重建结果的准确性与重建图像的质量；将重建问题转化为有约束条件的1/2‑范数极小化问题，利用半阈值追踪算法来求解，使得解满足1/2‑范数最小的同时保证重建问题对参数的鲁棒性和加速重建时间。