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针对X射线表征设备原位池联用的反应控制和质谱分析站

摘要

本发明涉及一种针对X射线表征设备原位池联用的反应控制和质谱分析站,所述反应控制和质谱分析站包括反应气体成分控制模块及在线气体成分分析模块,发明内容还包括基于原有真空管线部分的改装,改装后的原有真空管线部分通过总排气口、原位反应池尾气口及原位反应池混气进样口与分析站连接,其改装特征在于,所述真空管线部分增加了质谱仪采样口和采样毛细管和控制阀。本发明具有如下优点:在质谱气体采样成分分析时可忽略的采样时间延迟,并达到了原位分析连续、实时和高时间分辨率的采样分析要求;在X射线表征设备的工作条件下,获得电子结构/晶体结构的同时,同步获得环境气体成分的精确信息,扩展了设备功能,实现了原位多维度表征。

著录项

  • 公开/公告号CN107238618A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-10-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海科技大学;

    申请/专利号CN201710347554.2

  • 申请日2017-05-17

  • 分类号G01N23/207(20060101);

  • 代理机构31001 上海申汇专利代理有限公司;

  • 代理人翁若莹;柏子雵

  • 地址 200120 上海市浦东新区华夏中路393号

  • 入库时间 2023-06-19 03:28:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-30

    授权

    授权

  • 2017-11-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/207 申请日:20170517

    实质审查的生效

  • 2017-10-10

    公开

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