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一种同时测量高反射/高透射光学元件的反射率、透过率、散射损耗和吸收 损耗的方法

摘要

本发明涉及一种同时测量高反射/高透射光学元件的反射、透过、散射和吸收的方法,该方法基于光腔衰荡技术,先测量初始光学谐振腔的衰荡时间τ0,然后加入待测高反射/高透射光学元件,测量测试光学谐振腔的衰荡时间τ1,经计算得到高反射/高透射光学元件的反射率/透过率;同时测量高反射/高透射光学元件的透射/反射光强信号和散射光强信号与输出腔镜的透射光强信号的比值,通过定标得到光学元件的透过率/反射率和散射损耗;光学元件的吸收损耗可以通过反射率、透过率和散射损耗求得。该测量方法不仅可测量高反射/高透射光学元件的反射率、透过率、散射损耗和吸收损耗,而且可对其分布实现高分辨率二维成像。

著录项

  • 公开/公告号CN107132029A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-09-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201710332425.6

  • 发明设计人 李斌成;崔浩;王静;高椿明;

    申请日2017-05-12

  • 分类号G01M11/02(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 03:16:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20170512

    实质审查的生效

  • 2017-09-05

    公开

    公开

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