基于概率信息检测半导体存储器的被最频繁存取的地址的方法

摘要

提供了一种管理半导体存储器的方法，所述方法包括如下步骤：根据采样时间段，从对于存储器单元阵列的存取流对行地址进行采样；基于概率信息，确定采样的行地址是否是与被最频繁存取的目标行对应的地址；对与目标行相邻的行执行刷新操作。