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Method of detecting most frequently accessed address of semiconductor memory based on probability information

机译:基于概率信息的半导体存储器最常访问地址的检测方法

摘要

A method of managing a semiconductor memory is provided which includes sampling a row address from an access stream on a memory cell array according to a sampling period; determining whether the sampled row address is an address corresponding to a target row which is most frequently accessed, based on probability information; and executing a refresh operation on rows adjacent to the target row.
机译:提供一种管理半导体存储器的方法,该方法包括:根据采样周期从存储单元阵列上的访问流中采样行地址;以及根据概率信息确定采样行地址是否为对应于最常访问的目标行的地址;在与目标行相邻的行上执行刷新操作。

著录项

  • 公开/公告号US9978440B2

    专利类型

  • 公开/公告日2018-05-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号US201415529587

  • 发明设计人 SANGYEUN CHO;

    申请日2014-11-25

  • 分类号G11C7/10;G11C11/408;G11C11/406;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:58:08

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