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测量处理装置、X射线检查装置、构造物的制造方法、测量处理方法、X射线检查方法、测量处理程序和X射线检查程序

摘要

一种用于X射线检查装置的测量处理装置,所述X射线检查装置检测穿过放置在放置单元上的试样的预定区域的X射线,以对所述试样的预定区域的形状进行检查,所述测量处理装置包括:设置单元,用于在所述试样上设置待检测的三维区域;以及切片选择单元,用于在所述待检测区域上设置多个切片区域,当所述多个切片区域被视为所述预定区域时,对于所述多个切片区域中的每一个切片区域,计算检测所述待检测区域所需的所述预定区域的位移量,并且基于每个计算的位移量,从所述多个切片区域中选择用于检查的切片区域。

著录项

  • 公开/公告号CN107076684A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社尼康;

    申请/专利号CN201480083007.2

  • 发明设计人 町井畅且;早野史伦;河井章利;

    申请日2014-09-02

  • 分类号

  • 代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁

  • 地址 日本国东京都千代田区有乐町一丁目12番1号

  • 入库时间 2023-06-19 03:06:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/04 申请日:20140902

    实质审查的生效

  • 2017-08-18

    公开

    公开

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