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一种基于强互耦效应的低剖面宽带宽角扫描相控阵天线

摘要

本发明公开了一种基于强互耦效应的低剖面宽带宽角扫描相控阵天线,剖面高度仅为0.127高频波长,并实现了8‑12GHz频带范围内比小于2.5情况下的二维±60°宽角扫描。其结构包括:介质基板(1);印刷在介质板上的偶极子单元(2);偶极子单元两侧平行放置的矩形贴片(3);地板(4);非平衡馈电结构(5);两个接地金属化通孔(6);对非平衡馈电结构进行馈电的微波同轴电缆(7)。其中,印刷偶极子放置在介质顶部的中间位置,两侧分别印刷有两个平行放置的矩形贴片。

著录项

  • 公开/公告号CN107017470A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201710237335.9

  • 申请日2017-04-12

  • 分类号

  • 代理机构四川省成都市天策商标专利事务所;

  • 代理人谭德兵

  • 地址 610000 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 02:58:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01Q21/06 申请日:20170412

    实质审查的生效

  • 2017-08-04

    公开

    公开

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