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一种基于质量损失和成本最小化的装配公差优化方法

摘要

本发明涉及一种基于质量损失和成本最小化的装配公差优化方法,主要包括如下几个步骤:建立质量损失和加工成本的数学模型;添加实际加工能力约束;多目标教与学算法进行参数初始化;对算法初始解进行教学阶段的迭代;采用爬山搜索策略对解进一步的开发;对种群进行Pareto排序;对解进行进一步的学习,进一步增加求解的精度;完成迭代过程,找到最优解。本发明基于计算机技术,结合人工智能领域中的群体智能优化算法,进一步的提高了装配体的公差设计的计算效率和计算精度,目的是能够满足精密制造下的设计精度,提高生产效率,提高零件质量,从而进一步降低生产成本。

著录项

  • 公开/公告号CN106960101A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN201710194650.8

  • 发明设计人 杨洋;李明;韦庆玥;

    申请日2017-03-28

  • 分类号G06F17/50(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2023-06-19 02:52:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-18

    公开

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