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用于检测结构变化的X射线散射系统和方法

摘要

本公开涉及用于检测结构变化的X射线散射系统和方法。本公开的实施例提供用于检测结构的一个或多个热和/或机械属性的系统和方法。该方法可包括由形成结构的材料形成一个或多个测试结构;生成并存储从一个或多个测试结构确定的校准数据;将X射线辐射发射到结构中;检测来自结构的X射线散射;以及基于所检测的X射线散射和校准数据确定结构的一个或多个属性。

著录项

  • 公开/公告号CN106940324A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 波音公司;

    申请/专利号CN201611078723.9

  • 申请日2016-11-29

  • 分类号G01N23/20(20060101);

  • 代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人梁丽超;陈鹏

  • 地址 美国伊利诺斯州

  • 入库时间 2023-06-19 02:48:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/20 申请日:20161129

    实质审查的生效

  • 2017-07-11

    公开

    公开

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