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X射线检测设备以及X射线探测器的校准装置及方法

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本发明提供了一种X射线检测设备以及X射线探测器的校准装置及方法，X射线探测器的校准方法包括：调取存储在X射线探测器中的与X射线探测器相关的校准参数；以及，根据该校准参数对X射线探测器进行校准。

著录项

公开/公告号CN106923851A

专利类型发明专利
公开/公告日2017-07-07

原文格式PDF
申请/专利权人通用电气公司;
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申请/专利号CN201511016179.0
发明设计人陈培军;谭涌涛;赵巍;桑德斯·罗兰;
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申请日2015-12-29
分类号A61B6/03;
代理机构上海专利商标事务所有限公司;
代理人侯颖媖
地址美国纽约州
入库时间 2023-06-19 02:48:20

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-01-29

实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/03 申请日:20151229

实质审查的生效
2017-07-07

公开

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