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一种基于Laws纹理滤波的荧光磁粉缺陷自动识别方法

摘要

本发明使用了一种基于Laws纹理滤波的荧光磁粉缺陷自动识别方法,可用于铁磁性器件表面以及近表面的裂纹缺陷检测,同时解决了在实际图像采集过程中金属表面反光的问题。具体实现通过模板计算局部纹理能量信息可获得灰度变化的信息得到特征图像,对得到的7通道特征图像进行滤波后将其放入高斯混合模型中进行分类识别,分类后得到正常区域,对于待检测的磁痕图像使用区域相减得到缺陷区域这时可对其缺陷进行像素统计,若缺陷区域像素数高于某一阈值则认为该工件为不良品。与目前使用的人工识别磁痕缺陷相比,提高了检测效率。而且减少了荧光磁粉检测对人体尤其是对人眼带来的伤害。同时检测设备的自动化程度大大提高。

著录项

  • 公开/公告号CN106934801A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西南科技大学;

    申请/专利号CN201710117533.1

  • 申请日2017-03-01

  • 分类号G06T7/00;G01N21/64;G01N21/91;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 621010 四川省德阳市涪城区青龙大道中段59号西南科技大学

  • 入库时间 2023-06-19 02:44:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-11

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06T7/00 申请公布日:20170707 申请日:20170301

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2017-08-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20170301

    实质审查的生效

  • 2017-07-07

    公开

    公开

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