首页> 中国专利> 一种提高硅/金属氧化物纳米线阵列光电化学性能的方法

一种提高硅/金属氧化物纳米线阵列光电化学性能的方法

摘要

本发明公开了一种提高硅/金属氧化物纳米线阵列光电化学性能的方法,即对硅/金属氧化物纳米线阵列进行光电化学处理,所述方法包括在模拟太阳光照射下,将硅/金属氧化物纳米线阵列置于强碱溶液中,对硅/金属氧化物纳米线阵列施加恒定电位并持续一定时间。本发明通过对硅/金属氧化物纳米线阵列进行光电化学处理来提高光电化学性能,填补了现有技术的空白,使用该方法提升半导体光电极光电化学性能不仅成本低,且工艺简单,便捷有效,不仅进一步提高光电化学分解水效率,而且使这一先进技术有可能真正实现实用化。

著录项

  • 公开/公告号CN106757141A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院理化技术研究所;

    申请/专利号CN201610996007.2

  • 发明设计人 佘广为;师文生;张韶阳;

    申请日2016-11-11

  • 分类号C25B11/00;C25B1/04;

  • 代理机构北京正理专利代理有限公司;

  • 代理人张文祎

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村东路29号

  • 入库时间 2023-06-19 02:16:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-12

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):C25B11/00 申请公布日:20170531 申请日:20161111

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):C25B11/00 申请日:20161111

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号