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基于温度场有限元分析的小型断路器内部温升测量方法

摘要

本发明公开了一种基于温度场有限元分析的小型断路器内部温升测量方法,采用有限元软件计算出不同环境温度下小型断路器整体和内部各个零部件的温度场分布云图,内部各零部件温度的最大值,以及接线端部外表面所有节点的稳态温度值;对仿真得到的接线端部外表面所有节点的稳态温度值进行数据处理,得到其稳态平均值;验证模型的正确性;建立不同环境温度下小型断路器内部各个零部件温度最大值和接线端部外表面温度稳态平均值的数学关系和拟合曲线;选择处于额定工作状态下的小型断路器进行测量,得到小型断路器内部零部件温度的最大值。本发明的有益效果是,能够测量出小型断路器内部各个零部件温度最大值,有效缩短测量时间,大大提高了工作效率。

著录项

  • 公开/公告号CN106644163A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河北工业大学;

    申请/专利号CN201610989607.6

  • 申请日2016-11-10

  • 分类号G01K13/00;G06F17/50;

  • 代理机构北京兆君联合知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郑学成

  • 地址 300130 天津市红桥区丁字沽一号路8号

  • 入库时间 2023-06-19 02:03:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01K13/00 申请日:20161110

    实质审查的生效

  • 2017-05-10

    公开

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