通过光学图像衬度差鉴别TMDs二维纳米薄片厚度的方法

摘要

本发明公开了一种通过测量光学图像衬度差快速准确鉴别单层至数十层过渡金属硫属化合物(TMDs)二维纳米薄片厚度的方法，不同于其他光学图像采用刺激值或对比度值等需要公式计算并且厚度鉴定有限的方法，本发明只需提取图像衬度通过一步简单减法就可以快速准确地确定各衬底上TMDs二维纳米薄片厚度。首先采用光学显微镜和彩色相机拍摄TMDs二维纳米薄片在衬底上的光学图像，然后利用免费图像处理软件来测定光学显微镜图像中不同厚度TMDs二维纳米薄片在彩色、红色、绿色和蓝色通道下与衬底的光学衬度差，构建不同种类、不同厚度TMDs二维纳米薄片的衬度差标准图谱，从而实现对各衬底上不同种类单层至数十层TMDs二维纳米薄片厚度的快速准确鉴定。