可提高触摸屏玻屏AOI检测良品率的AOI算法/工艺方法

摘要

本发明提供了可提高触摸屏玻屏AOI检测良品率的AOI算法和工艺，其特征在于：在AOI新算法中，将玻屏的检测区域划分为视窗区和非视窗区后，进行AOI的检测；在丝印工艺前检测和丝印后检测的AOI检测工序中，包括对各区域是否存在可容许脏污和不容许脏污的判断；所述脏污为可被清除的污染物；如果是可容许脏污将会被AOI算法视同良品进入下道工艺。而本发明涉及的AOI检测方法，旨在克服现有玻璃生产工艺和AOI检测的配合上存在的良品率低下的缺陷，以避开脏污(含化学溶剂残留物、灰尘、纤维、指印和污迹)对检测的良品率的影响(高达80％)来实现AOI检测良品率的提高，使得AOI在触摸屏玻屏检测中能有效地替代人工检测。