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公开/公告号CN106546486A
专利类型发明专利
公开/公告日2017-03-29
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉大学;
申请/专利号CN201710033596.9
发明设计人 李应卫;李英豪;
申请日2017-01-16
分类号G01N3/08;
代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人胡艳
地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
入库时间 2023-06-19 01:49:42
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-04-26
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N3/08 申请日:20170116
实质审查的生效
2017-03-29
公开
机译: 一种测试芯片卡脆性断裂行为的方法
机译: 测试芯片卡的脆性断裂行为包括使卡承受阶跃弯曲载荷,以使弯曲围绕其纵向或横向轴在150至180度的范围内进行
机译: 测试弯曲载荷下芯片的脆性断裂行为
机译:测量脆性材料双轴强度的测试装置
机译:在爆破载荷下脆性材料的脆弱材料周围断裂行为
机译:了解孔隙率对准脆性材料机械和断裂行为的影响:实验和建模
机译:微型测试,以评估准脆性材料的断裂特性
机译:通过结合脆性材料的复合损伤力学理论的非线性有限元代码的开发和应用,研究混凝土的断裂行为。
机译:在常规设置中使用微型型装置的使用微型装置的经验用于诊断低级慢性假肢关节感染
机译:磁声发射装置,用于测试脆性材料
机译:业余/军用无线电系统设备保护装置的电磁脉冲/瞬态威胁测试。第3卷。测试数据,保护装置的电磁脉冲测试。第7节。设备和装置