首页> 中国专利> 视向速度测量的系外行星天基高精度探测系统及方法

视向速度测量的系外行星天基高精度探测系统及方法

摘要

本发明公开了一种视向速度测量的系外行星天基高精度探测系统及方法,该系统包括入射光调整模块等,入射光调整模块用于对入射的待观测宿主恒星发出的光进行准直;定差干涉与色散模块包括两个反射镜、一个分光镜和一个光栅组成,定差干涉与色散模块通过分光镜入射的宿主恒星光分成两束光,分别入射到两个反射镜上反射,再次经过分光镜汇合,形成干涉,然后干涉光经过光栅进行色散。本发明采用定差干涉式视向速度测量技术,结合定差干涉技术和光栅色散原理进行光谱分析,可实现高精度的视向速度测量,从而实现系外行星的探测。

著录项

  • 公开/公告号CN106526690A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海卫星工程研究所;

    申请/专利号CN201611082708.1

  • 发明设计人 张嵬;杜洋;方宝东;陆希;何赟晟;

    申请日2016-11-30

  • 分类号G01V8/10;

  • 代理机构上海汉声知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭国中

  • 地址 200240 上海市闵行区华宁路251号

  • 入库时间 2023-06-19 01:48:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-17

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01V8/10 申请公布日:20170322 申请日:20161130

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-04-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V8/10 申请日:20161130

    实质审查的生效

  • 2017-03-22

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号