一种确定理想单举计数率的方法和装置

摘要

本发明公开了一种确定理想单举计数率的方法和装置，属于计算机技术领域。所述方法包括：确定放射性活度的棒源在平行于正电子发射断层显像PET设备的轴向，且距所述PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动形成的曲面中的每个单位区域，与所述PET设备中的每个晶体的距离，以及所述每个单位区域与所述每个晶体的角度，根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。采用本发明，可以避免技术人员长时间靠近放射性溶液，降低技术人员受辐射的风险，避免安全事故的发生。

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种确定理想单举计数率的方法和装置。

背景技术

在医学领域中，可以通过PET/CT(positron emission tomography/computed tomography，正电子发射断层显像/计算机断层扫描)设备对人体或动物体肿瘤、心脏系统疾病和神经系统疾病进行早期诊断。PET设备中可以设置有探测部件，探测部件可以包括多个探测单元，探测单元在横断面方向上是成圆形对称排列的，其中，任一探测单元可以是一个晶体(Crystal)，也可以是由多个晶体组成的晶体矩阵，如14×14晶体矩阵等。另外，探测部件还可以包括光电转换器件(如光电倍增管)，以及电子学电路板等。

由于在探测的过程中，经常会出现堆积效应和死时间的现象，导致PET的成像质量及定量性变差，因此，需要通过实验得出堆积效应和死时间的校正矩阵，在实际检测的过程中，通过该校正矩阵对探测到的数据进行校正，以避免死时间和堆积效应带来的影响。

校正矩阵通常是通过实验获得的，在实验过程中，技术人员需要将活度较大放射性溶液(如F18液体)均匀的注入到圆柱模体，然后通过PET对该圆柱模体进行检测，得到较大活度下的单举计数率，然后每隔一段时间，再对该圆柱模体进行检测。由于放射性溶液中的放射性核素会发生衰变，因此，放射性溶液的活度会随时间逐渐降低，这样，可以得到不同活度下的单据数据率。在理想情况下，PET系统的理想单举计数率是随着活度线性变化的，由于低活度(即小于预设阈值的活度)下死时间和堆积效应的影响很小，因此，可以认为在低活度下的检测单举计数率与理想单举计数率相等，即可以将低活度下的检测单举计数率，作为理想单举计数率。对于任一晶体，终端可以通过低活度下确定出的多个理想单举计数率，以及每个理想单举计数率对应的活度，确定活度与理想单举计数率的线性对应关系，进而根据每个活度对应的检测单举计数率，确定理想单举计数率与检测单举计数率的对应关系，得到堆积效应和死时间的校正矩阵，以便在对病人进行检查时，根据该校正矩阵，对检测单举计数率进行校正。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：

向模体中注入放射性溶液的处理是由人工操作的，技术人员在注入放射性溶液的过程中，会长时间靠近放射性溶液，而放射性溶液的活度较大，放射性较高，这样，会增加技术人员受辐射的风险，容易引发安全事故。

发明内容

为了解决现有技术的问题，本发明实施例提供了一种确定理想单举计数率的方法和装置。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种确定理想单举计数率的方法，所述方法包括：

确定放射性活度的棒源在平行于正电子发射断层显像PET设备的轴向，且距所述PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动形成的曲面中的每个单位区域，与所述PET设备中的每个晶体的距离，以及所述每个单位区域与所述每个晶体的角度，其中，所述每个单位区域与所述每个晶体的角度为所述每个单位区域与所述每个晶体所连直线，与所述直线对应的晶体的所在横断面的角度；

根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。

可选的，根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率，包括：

根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离，以及所述每个单位区域与所述每个晶体的角度，确定所述PET设备当前的第一辐照通量；

根据所述第一辐照通量、预设的基准辐照通量和预设的所述每个晶体的基准单举计数率，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。

可选的，所述根据所述第一辐照通量、基准辐照通量和所述每个晶体的基准单举计数率，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率，包括：

确定所述基准辐照通量与所述第一辐照通量的比值，将所述每个晶体的基准单举计数率分别除以所述比值，得到所述每个晶体当前的理想单举计数率。

可选的，所述方法还包括：

检测所述每个晶体当前的检测单举计数率，将所述每个晶体当前的检测单举计数率和所述每个晶体当前的理想单举计数率进行对应的存储。

可选的，所述根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率，包括：

根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率仿真分析算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。

第二方面，提供了一种确定理想单举计数率的装置，所述装置包括：

第一确定模块，用于确定放射性活度的棒源在平行于正电子发射断层显像PET设备的轴向，且距所述PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动形成的曲面中的每个单位区域，与所述PET设备中的每个晶体的距离，以及所述每个单位区域与所述每个晶体的角度，其中，所述每个单位区域与所述每个晶体的角度为所述每个单位区域与所述每个晶体所连直线，与所述直线对应的晶体的所在横断面的角度；

第二确定模块，用于根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。

可选的，所述第二确定模块，包括：

第一确定子模块，用于根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离，以及所述每个单位区域与所述每个晶体的角度，确定所述PET设备当前的第一辐照通量；

第二确定子模块，用于根据所述第一辐照通量、预设的基准辐照通量和预设的所述每个晶体的基准单举计数率，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。

可选的，所述第二确定子模块，用于：

确定所述基准辐照通量与所述第一辐照通量的比值，将所述每个晶体的基准单举计数率分别除以所述比值，得到所述每个晶体当前的理想单举计数率。

可选的，所述装置还包括：

存储模块，用于检测所述每个晶体当前的检测单举计数率，将所述每个晶体当前的检测单举计数率和所述每个晶体当前的理想单举计数率进行对应的存储。

可选的，所述第二确定模块，用于：

根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率仿真分析算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。

本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：

本发明实施例中，确定放射性活度的棒源在平行于正电子发射断层显像PET设备的轴向，且距PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动形成的曲面中的每个单位区域，与PET设备中的每个晶体的距离，以及每个单位区域与每个晶体的角度，其中，每个单位区域与每个晶体的角度为每个单位区域与每个晶体所连直线，与直线对应的晶体的所在横断面的角度，根据每个单位区域与每个晶体的距离、每个单位区域与每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定每个晶体当前的理想单举计数率，这样，通过固体的放射性棒源进行堆积效应和死时间的校正实验，无需技术人员向模具中注入放射性溶液，从而避免技术人员长时间靠近放射性溶液，降低技术人员受辐射的风险，避免安全事故的发生。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种确定理想单举计数率的装置示意图；

图2是本发明实施例提供的一种终端的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的一种理想单举计数率的方法流程图；

图4是本发明实施例提供的一种确定理想单举计数率的装置示意图；

图5是本发明实施例提供的一种确定理想单举计数率的装置示意图；

图6是本发明实施例提供的一种理想单举计数率和检测单举计数率的对应关系示意图；

图7是本发明实施例提供的一种确定理想单举计数率的装置结构示意图；

图8是本发明实施例提供的一种确定理想单举计数率的装置结构示意图；

图9是本发明实施例提供的一种确定理想单举计数率的装置结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。

本发明实施例提供了一种确定理想单举计数率的方法，该方法的执行主体为终端。其中，该终端可以是具有数据统计和计算功能的终端，比如，该终端可以是PET(positron emission tomography，正电子发射断层显像)设备，或者，可以是根据PET设备采集的数据进行统计和计算的计算机设备。

终端可以包括处理器210、收发器220、存储器230、输入单元240、显示单元250、音频电路260以及电源270等部件，如图2所示，本领域技术人员可以理解，图2中示出的终端结构并不构成对终端的限定，可以包括比图示更多或更少的部件或者组合某些部件，或者不同的部件布置。其中：

处理器210可以是终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个终端设备的各个部分，如收发器220和存储器230等，通过运行或执行存储在存储器230内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器230内的数据，执行终端的各种功能和处理数据，从而对终端进行整体监控。可选的，处理器210可包括一个或多个处理核心。在本发明中，处理器210可以用于确定门控信号的相关处理。收发器220可以用于接收和发送数据，终端可以通过收发器220接收和发送数据，终端可以通过因特网收发数据，收发器可以是网卡。

存储器230可用于存储软件程序以及模块，处理器210通过运行存储在存储器230的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理。存储器230可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如算法或公式)等；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据(比如计算出的理想单举计数率和检测到的检测单举计数率等)等。此外，存储器230可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。输入单元240可以用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。显示单元250可以用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息以及终端的各种图形用户接口，这些图形用户接口可以由图形、文本、图标、视频和其任意组合来构成。显示单元250可包括显示面板251，可选的，可以采用LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)、OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)等形式来配置显示面板251。音频电路260、扬声器261，传声器262可提供用户与终端之间的音频接口，音频电路260可将接收到的音频数据转换为电信号。电源270可以通过电源管理系统与处理器210逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。电源270还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电系统、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。终端还包括有存储器，以及一个或者一个以上的程序，其中一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行述一个或者一个以上程序来执行下述各个实施例的数据校正的方法。

PET设备中可以设置有探测部件，探测部件可以包括多个探测单元，探测单元在横断面方向上是成圆形对称排列的，其中，任一探测单元可以是一个晶体(Crystal)、，也可以是由多个晶体组成的晶体矩阵，如14×14晶体矩阵等。另外，探测部件还可以包括光电转换器件(如光电倍增管)，以及电子学电路板等。在探测时，被检查者体内会预先注射弱放射性药物(如FDG等)，弱放射性药物中的放射性核素发射出正电子会与周围的电子湮灭产生光子，探测部件的晶体则会探测到这些光子。同时，这些光子还会和人体组织发生散射，成为其它能量较低的光子。为了从多种能量的光子中找到511keV的光子，PET设备的处理部件需要对某光子的沉积能量在一定时间内做积分，称为积分时间。如果积分时间内得到的积分结果在预设数值范围内，则可以判定该光子为511keV的光子，然后，处理部件可以根据各晶体检测到511keV的光子的情况进行分析、筛选、符合等处理。例如，可以统计某晶体的晶体在单位时间内探测到的511keV的光子的数目，得到该晶体的单举计数率。

在上述处理过程中，会出现堆积效应和死时间的现象。其中，堆积效应(pileup effect)是指在对某个光子进行积分计算的过程中，可能会有另一个或多个光子被探测部件探测到，造成两个或两个以上光子在能量通道上叠加的情况。堆积效应会导致某一光子的积分结果产生误差，导致识别光子的准确度降低。另外，处理模块需要一定的时间来对光子进行处理，而且该时间段内不会再处理其他光子。在实际中，总是会有一些光子在某个处理模块还没有处理完当前事件时，被探测部件探测到，此时，处理模块将不会对这些后续的光子探测事件进行处理，形成了“死时间”(dead time)。死时间会导致本该捕捉到的事件丢失，从而影响PET的成像质量。为了避免死时间和堆积效应带来的影响，技术人员需要通过实验，来得到在不同活度下，每个晶体的理想单举计数率和检测单举计数率，进而确定校正矩阵，以便在后续检测过程中，通过该校正矩阵对检测单举计数率进行校正，避免死时间和堆积效应带来的影响。

本实施例提供了一种检测不同活度下，每个晶体的理想单举计数率和检测单举计数率的实验方法和装置，该实验装置可以包括PET设备和固体的放射性棒源，放射性棒源的有效成分可以是Ge68，并且该放射性棒源中，放射性核素的分布是均匀的。在PET设备中，晶体在横断面方向上是成圆形对称排列的，PET设备中的所有晶体，整体可以构成一个圆柱形的曲面，该圆柱形的轴线，即为PET设备的轴心，该轴线的方向，即为PET设备的轴向。其中，放射性棒源平行于PET设备的轴向设置，并且可以围绕PET设备的轴心进行转动，放射性棒源距PET设备的轴心的距离可以由技术人员进行设置和调整，例如，该距离可以是5厘米、10厘米、15厘米和20厘米。如图1所示，为本实施提供的实验装置示意图，其中，放射性棒源距PET设备的轴心的距离为第一距离。通过改变放射性棒源距PET设备的轴心的距离，可以模拟不同活度的放射源，放射性棒源距PET设备的轴心越近，则离晶体的距离越远，其等效的活度越低，同理，放射性棒源距PET设备的轴心越远，则离晶体的距离越近，其等效的活度越高。另外，放射性棒源的有效放射性长度可以大于PET轴向视野的长度。

如图3所示，该方法的处理流程可以包括如下的步骤：

步骤301，确定放射性棒源在平行于正电子发射断层显像PET设备的轴向，且距PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动形成的曲面中的每个单位区域，与PET设备中的每个晶体的距离，以及每个单位区域与每个晶体的角度。

其中，每个单位区域与每个晶体的角度为每个单位区域与每个晶体所连直线，与直线对应的晶体的所在横断面的角度。

在实施中，技术人员可以设置放射性棒源平行于PET设备的轴向，且距PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动，第一距离可以是大于等于零，小于等于轴心与晶体之间距离的任一距离。如图4所示，放射性棒源围绕PET设备的轴心进行转动时，其转动轨迹可以形成一个圆柱形的曲面，当放射性棒源的转动速度达到某一速度阈值时，可以近似看成一个曲面的放射源(即空心桶源)。在该曲面可以被划分为多个微分单元，每个微分单元可以作为一个单位区域。技术人员可以在PET设备中建立一个坐标系(比如可以基于上述PET设备的轴向建立坐标系)，终端则可以对该坐标系进行存储，进而可以确定每个单位区域在该坐标系中的坐标，以及每个晶体的在该坐标系中的坐标。其中，单位区域的坐标以及每个晶体的坐标，可以是极坐标，也可以是直角坐标。对于PET设备中的任一晶体，可以根据该晶体的坐标，以及每个单位区域的坐标，分别计算每个单位区域与该晶体的距离。对于任一单位区域，终端可以根据该晶体的坐标、该单位区域的坐标、以及该晶体所在横断面的圆心的坐标，计算该晶体与该单位区域的连线，与该晶体和该圆心的连线所构成的夹角(即该晶体与该单位区域所连直线，与该晶体所在横断面的夹角)，得到该晶体与该单位区域的角度，对每个单位区域都进行该处理，可以得到该晶体与每个单位区域的角度。

对于PET设备中的每个晶体都进行上述处理，可以得到每个单位区域与每个晶体的距离，以及每个单位区域与每个晶体的角度。

步骤302，根据每个单位区域与每个晶体的距离、每个单位区域与每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定每个晶体当前的理想单举计数率。

在实施中，终端确定每个单位区域与每个晶体的距离、以及每个单位区域与每个晶体的角度后，可以通过预设的理想单举计数率算法，确定每个晶体当前的理想单举计数率。预设的理想单举计数率算法可以是多种多样的本实施例提供了两种可行的处理方式。

方式一，可以先计算PET设备当前的辐照通量(即第一辐照通量)，然后根据第一辐照通量计算每个晶体当前的理想单举计数率。该处理具体可以包括以下步骤：

步骤一、根据每个单位区域与每个晶体的距离，以及每个单位区域与每个晶体的角度，确定PET设备当前的第一辐照通量。

在实施中，终端可以根据每个单位区域与每个晶体的距离、每个单位区域与每个晶体的角度、以及PET设备中每个晶体的面积，来确定PET设备当前的第一辐照通量。

例如，对于任一晶体，可以用该晶体的面积，乘以该晶体与第一单位区域的角度的正弦值，然后除以二者距离的平方，得到一比值，第一单位区域可以是每个单位区域中的任意单位区域，依此类推，终端可以得到该晶体对应每个单位区域的比值，终端可以计算这些比值的和值，得到该晶体对应的和值。对于任一晶体，终端都可以进行上述处理，得到每个晶体对应的和值，然后计算这些和值的总和，从而得到PET设备当前的辐照通量(即第一辐照通量)。具体的公式可以如下：

其中，S₁是PET设备当前的辐照通量(即第一辐照通量)，s是每个晶体的面积，dA是单位区域，r(A)是单位区域与晶体的距离，θ(A)是单位区域与晶体间的角度。对放射源积分表示对放射性棒源中的所有单位区域进行积分，对PET系统积分表示对PET系统中的所有晶体进行积分。

步骤二、根据第一辐照通量、预设的基准辐照通量和预设的每个晶体的基准单举计数率，确定每个晶体当前的理想单举计数率。

其中，基准辐照通量可以是在放射性棒源所在直线与PET设备的轴心重合(也即放射性棒源位于PET设备的轴心)时，PET设备的辐照通量；每个晶体的基准单举计数率可以为放射性棒源所在直线与PET设备的轴心重合时，每个晶体的检测单举计数率。放射性棒源位于PET设备的轴心的示意图可以如图5所示。

在实施中，终端可以按照上述辐照通量的计算公式，计算放射性棒源距PET设备的轴心的距离为零(即放射性棒源位于PET设备的轴心)时，PET设备的辐照通量，得到PET设备的基准辐照通量。基准辐照通量可以记为S₀，相应的计算公式可以如下：

其中S₀是PET设备的基准辐照通量，s是每个晶体的面积，dA是单位区域，r(A)是单位区域与晶体的距离(即晶体所在横断面的半径)，θ(A)是单位区域与晶体间的角度。对放射源积分表示对放射性棒源中的所有单位区域进行积分，对PET系统积分表示对PET系统中的所有晶体进行积分。

终端还可以获取该状态下PET设备中各晶体检测到的检测单举计数率。当放射性棒源位于PET设备的轴心时，等效的活度最低，由于低活度(即小于预设阈值的活度)下死时间和堆积效应的影响很小，因此，可以认为在低活度下的检测单举计数率与理想单举计数率相等，即可以将放射性棒源位于PET设备的轴心时各晶体的检测单举计数率，作为各晶体的理想单举计数率。理想单举计数率可以记为R₀。

另外，上述预设的基准辐照通量也可以由技术人员通过其他方式得到，例如，可以在低活度下通过现有技术中的辐照通量的计算方式计算得到。终端可以根据第一辐照通量、预设的基准辐照通量、预设的每个晶体的基准单举计数率，确定每个晶体当前的理想单举计数率。

可选的，终端可以确定基准辐照通量与第一辐照通量的比值，将每个晶体的基准单举计数率分别除以该比值，得到每个晶体当前的理想单举计数率。

在实施中，在理想状态下，对于PET设备中的任一晶体，基准辐照通量与第一辐照通量的比值，等于该晶体对应的基准单举计数率和该晶体当前的理想单举计数率的比值，其中，第一辐照通量是放射性棒源在平行于PET设备的轴向，且距PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动时，计算出的PET设备的辐照通量，当前的理想单举计数率是放射性棒源在平行于PET设备的轴向，且距PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动时，晶体检测到的理想单举计数率。每个晶体当前的理想单举计数率可以用R₁表示，该比值关系可以如下：

R₀/R₁＝S₀/S₁

由该等式可知，理想单举计数率和辐照通量是成正比的。基于该等式，终端可以确定计算基准辐照通量与第一辐照通量的比值，然后分别将每个晶体的基准单举计数率分别除以该比值，得到每个晶体当前的理想单举计数率。

方式二，根据每个单位区域与每个晶体的距离、每个单位区域与每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率的仿真分析算法，确定每个晶体当前的理想单举计数率。

在实施中，终端中可以利用现有技术中的仿真平台来确定每个晶体当前的理想计数率，例如，可以利用GATE、sim-SET、PET-EGS、PETSIM或MCNP等仿真平台，仿真平台一般可以通过蒙特卡洛方法实现。仿真平台中可以存储有理想单举计数率的仿真分析算法，终端可以通过仿真来构建PET系统，包括电子学逻辑、探测器的材料、几何形状、空间位置，以及放射源的几何形状、空间位置和运动信息。技术人员可以在终端输入上述信息，以使终端根据技术人员输入的信息，确定每个单位区域与每个晶体的距离，以及每个单位区域与每个晶体的角度，进而确定每个晶体当前的理想单举计数率。其中，探测器的空间位置可以是探测器在终端构建的空间坐标系中的坐标位置；放射源的几何形状可以是棒源的长度、半径等；放射源的空间位置可以是棒源的端点和/或中心点在终端构建的空间坐标系中的坐标，本实施例中，可以是放射性活度的棒源平行于PET设备的轴向，且距轴心的距离为第一距离时的坐标；运动信息可以是围绕PET设备的轴心进行转动。上述平台中的仿真分析算法可以采用现有技术中的仿真分析算法，本实施例不再赘述。

可选的，终端还可以检测每个晶体当前的检测单举计数率，将每个晶体当前的检测单举计数率和每个晶体当前的理想单举计数率进行对应的存储。

其中，每个晶体当前的检测单举计数率可以是放射性棒源在平行于PET设备的轴向，且距PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动时，每个晶体实际检测到的单举计数率。

在实施中，终端还可以获取每个晶体当前的检测单举计数率，然后可以分别将每个晶体当前的检测单举计数率，与每个晶体当前的理想单举计数率进行对应的存储，得到一组实验数据。技术人员可以改变第一距离，重复进行上述步骤，从而得到不同等效活度下，每个晶体的理想单举计数率和检测单举计数率，如图6所示，为放射性棒源以不同距离进行转动时，某晶体的理想单举计数率和检测单举计数率的示意图。对于任一晶体，终端可以根据该晶体的多个理想单举计数率，以及每个理想单举计数率对应的检测单举计数率，确定理想单举计数率与检测单举计数率的对应关系，从而得到每个晶体的理想单举计数率与检测单举计数率的对应关系，从而确定堆积效应和死时间的校正矩阵，以便在对病人进行检查时，根据该校正矩阵，对检测单举计数率进行校正。生成校正矩阵可以采用现有技术中的处理方式，本实施例不再赘述。

本发明实施例中，确定放射性活度的棒源在平行于正电子发射断层显像PET设备的轴向，且距PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动形成的曲面中的每个单位区域，与PET设备中的每个晶体的距离，以及每个单位区域与每个晶体的角度，其中，每个单位区域与每个晶体的角度为每个单位区域与每个晶体所连直线，与直线对应的晶体的所在横断面的角度，根据每个单位区域与每个晶体的距离、每个单位区域与每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定每个晶体当前的理想单举计数率，这样，通过固体的放射性棒源进行堆积效应和死时间的校正实验，无需技术人员向模具中注入放射性溶液，从而避免技术人员长时间靠近放射性溶液，降低技术人员受辐射的风险，避免安全事故的发生。

另外，基于现有技术的实验方法，每次实验时都需要重新购置放射性溶液，增加了生产成本，而本发明实施例中，由于放射性活度的棒源的半衰期较长，因此，放射性活度的棒源的使用期较长，无需在每次实验时都进行购置，从而可以降低生产成本。

基于相同的技术构思，本发明实施例还提供了一种确定理想单举计数率的装置，如图7所示，该装置包括：

第一确定模块710，用于确定放射性活度的棒源在平行于正电子发射断层显像PET设备的轴向，且距所述PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动形成的曲面中的每个单位区域，与所述PET设备中的每个晶体的距离，以及所述每个单位区域与所述每个晶体的角度，其中，所述每个单位区域与所述每个晶体的角度为所述每个单位区域与所述每个晶体所连直线，与所述直线对应的晶体的所在横断面的角度；

第二确定模块720，用于根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。

可选的，如图8所示，所述第二确定模块720，包括：

第一确定子模块721，用于根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离，以及所述每个单位区域与所述每个晶体的角度，确定所述PET设备当前的第一辐照通量；

第二确定子模块722，用于根据所述第一辐照通量、预设的基准辐照通量和预设的所述每个晶体的基准单举计数率，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。

可选的，所述第二确定子模块720，用于：

确定所述基准辐照通量与所述第一辐照通量的比值，将所述每个晶体的基准单举计数率分别除以所述比值，得到所述每个晶体当前的理想单举计数率。

可选的，如图9所示，所述装置还包括：

存储模块730，用于检测所述每个晶体当前的检测单举计数率，将所述每个晶体当前的检测单举计数率和所述每个晶体当前的理想单举计数率进行对应的存储。

可选的，所述第二确定模块720，用于：

根据所述每个单位区域与所述每个晶体的距离、所述每个单位区域与所述每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率的仿真分析算法，确定所述每个晶体当前的理想单举计数率。

本发明实施例中，确定放射性活度的棒源在平行于正电子发射断层显像PET设备的轴向，且距PET设备的轴心的距离为第一距离进行转动形成的曲面中的每个单位区域，与PET设备中的每个晶体的距离，以及每个单位区域与每个晶体的角度，其中，每个单位区域与每个晶体的角度为每个单位区域与每个晶体所连直线，与直线对应的晶体的所在横断面的角度，根据每个单位区域与每个晶体的距离、每个单位区域与每个晶体的角度、以及预设的理想单举计数率算法，确定每个晶体当前的理想单举计数率，这样，通过固体的放射性棒源进行堆积效应和死时间的校正实验，无需技术人员向模具中注入放射性溶液，从而避免技术人员长时间靠近放射性溶液，降低技术人员受辐射的风险，避免安全事故的发生。

另外，基于现有技术的实验方法，每次实验时都需要重新购置放射性溶液，增加了生产成本，而本发明实施例中，由于放射性活度的棒源的半衰期较长，因此，放射性活度的棒源的使用期较长，无需在每次实验时都进行购置，从而可以降低生产成本。

需要说明的是：上述实施例提供的确定理想单举计数率的装置在确定理想单举计数率时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的确定理想单举计数率的装置与确定理想单举计数率的方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。