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竖直光学元件表面损伤的显微扫描成像采集装置及方法

摘要

本发明公开了一种竖直光学元件表面损伤的显微扫描成像采集装置和方法。该装置包括:二维扫描运动平台、一维调焦轴、自动变倍显微镜头、面阵彩色CCD、同轴光源、环形光源、色散共焦位移传感器、系统控制器、工控机、隔震平台和显示器。该装置能够自动采集、存储图像,能够自动完成图像拼接,具备图像分析能力,能够统计图像中损伤点的数量和尺度。本发明能够实现光路中竖直放置光学元件表面的在线快速高精度显微扫描成像采集和损伤检测,具有广泛的应用前景和可观的社会经济效益。

著录项

  • 公开/公告号CN106338524A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院自动化研究所;

    申请/专利号CN201610709591.9

  • 发明设计人 史亚莉;张正涛;陶显;徐德;

    申请日2016-08-23

  • 分类号G01N21/95(20060101);G01N21/958(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人钟文芳

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村东路95号

  • 入库时间 2023-06-19 01:24:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-05

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/95 申请公布日:20170118 申请日:20160823

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2017-02-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/95 申请日:20160823

    实质审查的生效

  • 2017-01-18

    公开

    公开

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