首页> 中国专利> 散射光辅助的粒子追踪分析(PTA)方法和用于检测及特征化所有类型液体中纳米级粒子的装置

散射光辅助的粒子追踪分析(PTA)方法和用于检测及特征化所有类型液体中纳米级粒子的装置

摘要

一种用于光学检测粒子(23)的方法及装置具有下列特征:(a)具有矩形截面、由黑色玻璃制成的组件壁(9)利用L形加热及冷却组件(1)而被装配在纵向表面及接合的横向表面上;(b)组件壁(9)中与形成组件壁(9)支座的横向表面相对的横向表面中央受到照射装置照射,并且通过观察装置于与所述照射装置的光轴呈直角处被观察;(c)通过控制装置,所述照射装置的焦点及所述观察装置的焦点可由马达移动至组件壁(9)所定义的三维线性区域中的任意点;(d)组件壁(9)中与所述照射装置的辐射可通过进入的所述光学玻璃窗(11)相对的表面在它的中心处还包含另一光学玻璃窗(11);(e)组件壁(9)的表面的温度是通过两个热敏电阻(8)来监测。

著录项

  • 公开/公告号CN106233120A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-12-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 梅特里克斯微粒有限公司;

    申请/专利号CN201580020968.3

  • 发明设计人 哈诺·法其米格;玛格丽特·布克;

    申请日2015-05-12

  • 分类号G01N15/02;

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人邓斐

  • 地址 德国梅尔布施

  • 入库时间 2023-06-19 01:08:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-19

    授权

    授权

  • 2017-01-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/02 申请日:20150512

    实质审查的生效

  • 2016-12-14

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号