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一种单次回返超低量程紫外分析仪及其分析方法

摘要

本发明公开了一种单次回返超低量程紫外分析仪及其分析方法,单次回返超低量程紫外分析仪包括外壳、温控器、固态继电器、光谱仪温控模块、低量程气体室模块和氧传感器,外壳下部的外侧安装有流量计,外壳内部的底端安装有HMI板,温控器安装在HMI板上方的外壳内,固态继电器安装在温控器的上方,光谱仪温控模块位于温控器和固态继电器的右侧,低量程气体室模块安装在光谱仪温控模块的上方。本发明使用深紫外波段对SO2、NO等进行检测,比可见光波段的灵敏度高一个数量级,而且经过一次反射,在不增加长度情况下增加了吸收光程,所以能够进行超低量程的测量,采用温控器和光谱仪温控模块,避免温漂带来的测试准确度低的问题,适用于测量0‑100ppm的量程组份。

著录项

  • 公开/公告号CN106124441A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-11-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州泽天科技有限公司;

    申请/专利号CN201610449103.5

  • 申请日2016-06-21

  • 分类号G01N21/33(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 310052 浙江省杭州市滨江区浦沿街道园区中路22号2幢7层

  • 入库时间 2023-06-19 00:52:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-04

    授权

    授权

  • 2018-08-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/33 申请日:20160621

    实质审查的生效

  • 2016-11-16

    公开

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