首页> 中国专利> 物体振动振幅的亚纳米分辨率相位共轭干涉测量装置

物体振动振幅的亚纳米分辨率相位共轭干涉测量装置

摘要

一种物体振动振幅的亚纳米分辨率相位共轭干涉测量装置,包括沿光源发射光束的前进方向上,依次置有第一透镜、第二透镜、分束器、偏振分束器、偏振变换器至被测物体。由被测物体第一次反射的带有斑纹噪音的光束经偏振分束器反射后,由第四透镜会聚至光折变晶体。光折变晶体产生的相位共轭光由偏振分束器反射到被测物体,被测物体反射的相位共轭光不再带有斑纹噪音。因此,无论是表面光滑或粗糙的被测物体,其振动振幅均可以亚纳米分辨率地检测。

著录项

  • 公开/公告号CN1122836C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2003-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN00115304.8

  • 发明设计人 王向朝;王学锋;钱锋;

    申请日2000-03-30

  • 分类号G01N21/21;

  • 代理机构31002 上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人李兰英

  • 地址 201800 上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-05-28

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2003-10-01

    授权

    授权

  • 2000-08-30

    公开

    公开

  • 2000-08-02

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号