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具有减少的传导路径区域的电阻式存储器单元

摘要

本发明揭示一种形成电阻式存储器单元(例如CBRAM或ReRAM)(140)的方法,其包含:形成底部电极层(102A);形成所述底部电极的暴露区域的氧化区域(110);移除接近于所述氧化区域的所述底部电极层的区域以形成具有尖端或尖锐边缘区域(114A、114B)的底部电极;及使第一及第二电解质区域(120A、120B)及第一及第二顶部电极(122A、122B)形成于所述底部电极上以界定不同的第一及第二存储器元件。所述第一存储器元件界定从所述底部电极尖端区域的第一部分经由所述第一电解质区域而到所述第一顶部电极的第一传导纤丝/空位链路径,且第二存储器元件界定从所述底部电极尖端区域的第二部分经由所述第二电解质区域而到所述第二顶部电极的第二传导纤丝/空位链路径。

著录项

  • 公开/公告号CN105940516A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 密克罗奇普技术公司;

    申请/专利号CN201580005856.0

  • 发明设计人 保罗·菲思特;詹姆士·沃尔斯;

    申请日2015-02-18

  • 分类号H01L45/00;H01L27/24;

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人沈锦华

  • 地址 美国亚利桑那州

  • 入库时间 2023-06-19 00:31:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-02

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L45/00 申请公布日:20160914 申请日:20150218

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2017-04-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L45/00 申请日:20150218

    实质审查的生效

  • 2016-09-14

    公开

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