用于硅晶圆上的集成电路的测试器和集成电路

摘要

用于硅晶圆上的集成电路的测试器和集成电路。本发明涉及用于硅晶圆上的集成电路的测试器，其特征在于，该测试器包括用于对集成电路进行测试的输入/输出连接，并且其特征在于，该测试器包括：用于经由所述输入/输出连接将数据帧传送到所述集成电路的装置(E71)，所述数据帧包括用于包含在所述数据帧中的数据的时间基准、用于验证所述时间基准的字段、以及包括至少一个集成电路测试命令的数据字段；和用于经由所述输入/输出连接接收数据帧的装置(E74)，所接收到的数据帧中的数据的持续时间是所述时间基准的倍数。